日本金属学会 2020年春期(第166回)講演大会
Mar 17 - Mar 19, 2020東京工業大学大岡山キャンパス
日本金属学会 2020年春期(第166回)講演大会
Mar 17 - Mar 19, 2020東京工業大学大岡山キャンパス
[225]Effects of Accidental Crack Size and Voltage Probe Distance on Critical Current, n-value and their Correlation in Coated Superconducting Tape
*OCHIAI Shojiro1, OKUDA Hiroshi2(1. Kyoto University, ESISM, 2. Kyoto University, Graduate School of Engineering)
一個の偶発クラックと多数の小クラックが存在するモデル超伝導テープを用いたシミュレーション法により、臨界電流、n値および両者の相関に及ぼす偶発クラックサイズと電圧端子間距離の影響を調査した。