The 26th Symposium on Sensing via Image Information
Jun 10 - Jun 12, 2020Online
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[SO1-28]不良品検出のための畳み込みニューラルネットワークとサポートベクタマシン設計支援ツール
*永田 寅臣1、中島 健斗1、三木 康平1、渡辺 桂吾2(1. 山口東京理科大学、2. 岡山大学)