[2A17]電子線照射した低Cu含有量A533B鋼中の照射損傷組織の APT, TEM, STEM/EDSによる評価
*藤井 克彦1、瀬戸 仁史2、福谷 耕司1、笠田 竜太3(1. INSS、2. NFD、3. 東北大)
キーワード:
Mn/Ni/Siクラスタ、転位ループ、照射脆化、原子炉圧力容器
電子線照射した低Cu含有量のA533B鋼をAPTとTEM、STEM/EDSで調べた結果、STEM/EDS分析によりAPT測定と同等にMn/Ni/Siクラスタが検出できることが確認され、ほぼすべての転位ループの位置にMn/Ni/Siクラスタが存在することが確認された。
