[1S02m-03]連続切片電子顕微鏡画像解析の深層学習による解析
〇平林 祐介1, 中西 優1, 坂野 匠1, 菅 翔吾1, 河合 宏紀1, ホンベル ブルーノ2(1.東京大学大学院工学系研究科, 2.沖縄科学技術大学院大学)
キーテクノロジー:深層学習
キーワード:
深層学習、電子顕微鏡
hirabayashi@chembio.t.u-tokyo.ac.jp
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