日本金属学会 2019年秋期(第165回)講演大会
2019年9月11日〜9月13日岡山大学津島キャンパス
日本金属学会 2019年秋期(第165回)講演大会
2019年9月11日〜9月13日岡山大学津島キャンパス
[233]Ba0.6La0.4F2.4フッ化物イオン伝導体の構造とイオン伝導経路
*森 一広1、嶺重 温2、齊藤 高志3、神山 崇3、大友 季哉3、藤﨑 布美佳4、福永 俊晴4(1. 京大複合研、2. 兵庫県立大、3. 高エネ機構、4. 京大産官学)
キーワード：
フッ化物イオン伝導体、中性子回折、構造
Ba0.6La0.4F2.4フッ化物イオン伝導体を用いて電気伝導度測定および中性子回折実験を行い，特に構造学的視点から余剰フッ素の位置と予想されるフッ素イオン伝導経路について調べた．