第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

2025年1月10日〜1月12日つくば国際会議場
日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

2025年1月10日〜1月12日つくば国際会議場

[11B1-04]光電子運動量顕微鏡によるSi(111)7×7の表面状態の観測

*松井 文彦1,2、松田 博之1、萩原 健太1、佐藤 祐輔1,2、下ケ橋 龍之介1、武田 さくら3、松下 智裕3、菅 滋正4(1. 自然科学研究機構分子科学研究所、2. 総合研究大学院大学、3. 奈良先端科学技術大学院大学、4. 大阪大学産業科学研究所)

キーワード:

光電子運動量顕微鏡、価電子帯分散、偏光、半導体表面、表面状態