第29回 地下水・土壌汚染とその防止対策に関する研究集会

第29回 地下水・土壌汚染とその防止対策に関する研究集会

2024年6月13日〜6月14日山形テルサ
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地下水・土壌汚染とその防止対策に関する研究集会
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2024年6月13日〜6月14日山形テルサ

[S1-07]PFAS処理における膜表面物質の蛍光X線分析

〇安原 雅子1、草場 周作1、嘉手苅 智子2、新垣 千紘2、西村 聡3、山内 仁3(1. 株式会社エンバイオ・エンジニアリング、2. 株式会社太名嘉組、3. 株式会社流機エンジニアリング)

キーワード：

ハンドヘルド型蛍光X線分析、PFAS、表面分析

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