[1PS-17-02]集束イオンビーム加工・観察装置(FIB-SEM)を用いた光ー電子相関顕微鏡法
○齊藤 知恵子1、LIU Yuqing 1、YANG Qinxuan2、三木 卓幸2、田中 直也3、中島 雄平3、菅 翔吾2、中村 航規2、平林 祐介2、吉川 雅英1(1. 東大・院医、2. 東大・院工、3. 日本電子株式会社)
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