[1PS-17] 【J】マルチモーダル電顕オルガネラ・イメージング

17:12 〜 17:39

[1PS-17-02] 集束イオンビーム加工・観察装置（FIB-SEM）を用いた光ー電子相関顕微鏡法

○齊藤 知恵子¹、LIU Yuqing ¹、YANG Qinxuan²、三木 卓幸²、田中 直也³、中島 雄平³、菅 翔吾²、中村 航規²、平林 祐介²、吉川 雅英¹ (1. 東大・院医、2. 東大・院工、3. 日本電子株式会社)

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