International Conference on Solid State Devices and Materials
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2002 International Conference on Solid State Devices and Materials
2002年9月17日
〜9月19日
Nagoya Congress Center, Nagoya, Japan
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2002 International Conference on Solid State Devices and Materials
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2002 International Conference on Solid State Devices and Materials
2002年9月17日
〜9月19日
Nagoya Congress Center, Nagoya, Japan
[C-2-1]
High-Resolution Compositional Profiling of High-к Gate Stack Structures
T. Nishimura、D. Starodub、T. Gustafsson、E. Garfunkel(1.Departments of Chemistry and Physics, Rutgers University)
https://doi.org/10.7567/SSDM.2002.C-2-1
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