International Conference on Solid State Devices and Materials
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2009 International Conference on Solid State Devices and Materials
2009年10月6日
〜10月9日
Sendai Kokusai Hotel, Miyagi, Japan
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2009 International Conference on Solid State Devices and Materials
詳細情報
2009 International Conference on Solid State Devices and Materials
2009年10月6日
〜10月9日
Sendai Kokusai Hotel, Miyagi, Japan
[B-2-5L]
Polarized Raman study of mechanical stress distribution in W/TiN metal gate MOSFETs
T. Tada
1
、V. Poborchii
1
、T. Matsuki
2
、J. Yugami
2
、T. Kanayama
1
(1.MIRAI-AIST(Japan)、2.Selete(Japan))
https://doi.org/10.7567/SSDM.2009.B-2-5L
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