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[2B11]Effect of irradiated X/gamma-rays on reading tracks of charged particles in FNTD
*Takuya Hashizume1,2, Tohru Okazaki1, Toshiya Sanami2,3, Masayuki Hagiwara2,3, Hideaki Mojushiro2,3, Hiroaki Hayashi4, Ikuo Kobayashi1 (1. Nagase Landauer, Ltd., 2. SOKENDAI, 3. KEK, 4. Tokushima Univ.)
Keywords:
FNTD,Tracks of charged particles,X-rays,Gamma-rays
蛍光飛跡検出器FNTD (fluorescent nuclear track detectors) では、励起/発光特性 (620/750 nm) を利用し、荷電粒子の飛跡画像を得ることができる。しかし専用リーダーの飛跡読取り効率は、X/γ線の照射が重畳した場合に低下することが分かっている。この原因を明らかにするために、本研究ではX/γ線の照射量による荷電粒子の飛跡画像の変化を測定した。 FNTDに241Am-α線を照射した後、光子線 (80 kV X線、137Cs-γ線) を追加照射し、得られた画像からα線飛跡およびバックグラウンドの蛍光強度を測定した。その結果、光子線の照射量を増やすことで、バックグラウンドの蛍光強度を不均一に上昇させ、α線飛跡の読取りを妨害していることが分かった。80kV X線照射による蛍光強度の上昇は、照射量 [mGy] で比較して、137Cs-γ線の約2倍の感度を示した。
