Presentation Information
[3E14]In-situ電気化学AFMによるフッ素化環状カーボネートを用いたシリコン負極被膜特性の直接観察
*Yasushi Uebou1, Yoshihiko Sato1, Takeshi Sasaki1 (1. GS Yuasa International Ltd (Japan))
Keywords:
Silicon negative electrode,In-situ electrochemical AFM,Surface film characteristic