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[1TKP6A01-11-02]高感度EDS 検出器搭載STEM による粒界近傍の局所微量分析

○千葉 一1、吉野 路英2 (1. 三菱マテリアル(株) 中央研究所 材料解析研究部、2. 三菱アルミニウム(株) 研究開発部)
司会:長井 陽一(DOWAテクノロジー(株))