Session Details

分析部門

Wed. Jun 12, 2019 12:50 PM - 5:00 PM JST
Wed. Jun 12, 2019 3:50 AM - 8:00 AM UTC
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司会:永井信(三井金属鉱業)・藤田義雄(住友金属鉱山)・富岡賢一(三菱マテリアル)・樫村寛(JX金属)

[100501-10-01]議長挨拶

○長井 陽一1 (1. DOWAテクノロジー株式会社)
司会:永井信(三井金属鉱業)

[100501-10-02]内標準を用いた蛍光X 線分析法によるNi およびCo の高精度分析

○加岳井 敦1、寺尾 俊昭1 (1. 住友金属鉱山株式会社)
司会:永井信(三井金属鉱業)

[100501-10-03]グロー放電質量分析装置による半導体粉体試料の分析

○平嶋 純也1、庵下 高宏1 (1. JX金属株式会社)
司会:永井信(三井金属鉱業)

Break

[100501-10-04]GD-MS によるAl 表面中の不純物分析について

○阿部 孝広1 (1. 三菱マテリアル株式会社)
司会:藤田義雄(住友金属鉱山)

[100501-10-05]鉛鉱石中の金・銀の乾式分析における共存元素の影響

濱家 裕也1、○森   格1 (1. 東邦亜鉛株式会社)
司会:藤田義雄(住友金属鉱山)

Break

[100501-10-06]銀中の不純物分析方法の改善

○伊藤 直幸1、曾根 弘昭1 (1. DOWAテクノロジー株式会社)
司会:富岡賢一(三菱マテリアル)

[100501-10-07]リサイクル原料中の貴金属分析法の開発

○仲表 俊幸1、和仁 博英1、池田 雅樹1、畑元 俊一1、石原 洋三2 (1. 神岡鉱業株式会社、2. 三井金属鉱業株式会社)
司会:富岡賢一(三菱マテリアル)

Break

[100501-10-08]TEM 観察用薄片試料作製方法の改善

○高橋 悟1、横塚 英治1、押村 信満1 (1. 住友金属鉱山株式会社)
司会:樫村寛(JX金属)

[100501-10-09]AES を用いた局所化学状態分析について

○三田 昌明1、峰  和久1、奥村 洋史1 (1. 三菱マテリアル株式会社)
司会:樫村寛(JX金属)

Break

[100501-10-10]Si 自動分析装置の開発

○永岡 信1、石原 洋三1、吉永 文博1、小柳 敦美1、畑元 俊一2 (1. 三井金属鉱業株式会社、2. 神岡鉱業株式会社)
司会:長井陽一(DOWAテクノロジー)