Session Details

一般講演_分析部門

Wed. Jun 10, 2026 1:00 PM - 5:20 PM JST
Wed. Jun 10, 2026 4:00 AM - 8:20 AM UTC
TKP Ichigaya (5F Hall 6C)
座長:市川 恵一郎(JX金属株式会社)、長井 陽一(DOWAテクノリサーチ株式会社)、小沢 洋(三菱マテリアル株式会社)、北崎 裕一(三井金属株式会社)

分析部門議長挨拶

部会表彰授賞式

[100703]液体電極プラズマ装置を用いた高マトリックス溶液の分析法検討

○葭原 達也1 (1. 三井金属株式会社 基礎評価研究所 企画開発グループ)

[100704]ガラスビード法を用いたXRFによる地質試料の化学組成分析事例

○平尾 宣暁1、松永 絹子2 (1. 三菱マテリアルテクノ(株)大阪化学分析センター、2. 三菱マテリアルテクノ(株)環境技術センター)

Break

[100705]NanoTerasuにおける放射光分析の活用に向けた検討

○吉村 爽花1 (1. 住友金属鉱山株式会社 技術本部 評価技術部 市川評価技術室)

[100706]金属防錆シートの有機定性分析

○加藤 直人1 (1. JX金属株式会社 技術開発センター分析グループ)

Break

[100707]リサイクル原料分析システムの開発

○榑松 達弥1、木村 和功1、多田 圭吾2 (1. DOWAテクノリサーチ株式会社 小坂センター、2. DOWAテクノロジー株式会社 西部テクノセンター)

[100708]はんだ中のスズ分析における簡易化の検討

○森 格1、長岡 拓磨1 (1. 東邦契島製錬株式会社 技術部 検査課)

Break

[100709]XRFを用いたCuNi中の組成分析方法の開発

○新井 祐也1 (1. 三菱マテリアル株式会社 イノベーションセンター)

[100710]作業環境測定野帳および報告書のDX化

○髙橋 咲子1 (1. 住鉱テクノリサーチ株式会社 調査担当グループ)

部会報告