[G] Microstructure Observations and Analyses

10:00 AM - 10:15 AM JST(1:00 AM - 1:15 AM UTC)

[38] 透過電子顕微鏡と他手法による異相間電位差測定の比較

*SASAKI Katsuhiro¹, MAKADA Miyako¹, Sasaki Hirokazu² (1. 株式会社UACJ、2. 古河電気工業株式会社)

Keywords:

走査プローブ顕微鏡,金属間化合物,界面電位差,Al₃Fe,Al

Al母相とAl₃Fe金属間化合物間の接触電位差を透過電子顕微鏡による影像歪法で測定し、走査プローブ顕微鏡法による測定や第一原理計算による仕事関数差と比較し、違いを考察した。