Presentation Information
[P36]Detection of microstructural evolution upon hydrogen loading in V thin films by Acoustic Emission measurements
*TAKUMI YAMADA1, RYOTA GEMMA1 (1. Tokai Univ.)
Keywords:
水素貯蔵材料,薄膜工学,アコースティックエミッション
DCマグネトロンスパッタリング法により作製した膜厚の異なるV薄膜について、測距計を用いた応力測定法の2つを用いて水素吸蔵時のその場測定を行い、水素吸蔵に伴う微細組織変化についてAE法を用いて検出を試みた。