Presentation Information
[149]Influence of Defects in Film on Hydrogenation
*Takashi HARUMOTO1, Ji Shi1, Yoshio Nakamura1 (1. Tokyo Institute of Technology)
Keywords:
水素,パラジウム,コバルト,欠陥,薄膜
薄膜中の欠陥量をWilliamson-Hall 法により定量評価し、薄膜における欠陥量と水素吸蔵特性の関係を調査した。
水素,パラジウム,コバルト,欠陥,薄膜