Presentation Information

[4]2D Nanostructure distribution in a 3-layered Al-Zn-Mg composite wire

*Shan LIN1, Hiroshi Okuda2 (1. Kyoto Univ. (Student))

Keywords:

X線小角散乱法,X線トモグラフィ,Al合金,積層材料

約0.5mm 角である角柱状の3層線材Al-2.5wt%Mg / Al-10wt%Zn / Al-2.5wt%Mgを用いて、X線小角散乱法でトモグラフィ測定を行なった。複層線材の2次元断面において絶対線吸収係数及び相対強度の積分強度分が得られた。