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10:30 AM - 11:10 AM JST(1:30 AM - 2:10 AM UTC)

[S4.1][Keynote Lecture] Analysis of Local Stress Distributions around Grain Boundaries by Energy Dispersive X-ray Diffraction Microscopy

*Tomotaka MIYAZAWA¹, Hirotaka SAKURABA², Ryosuke SUGANUMA², Toshiyuki FUJII¹ (1. Tokyo Institute of Technology, 2. Tokyo Institute of Technology, graduate student)

Keywords:

放射光,白色X線,エネルギー分散型X線回折,結晶粒界,応力集中,透過ラウエ,不適合性

多結晶材料における粒界での応力集中現象を明らかにするために，種々の材料の外部応力負荷下での局所応力分布を放射光白色X線を用いたエネルギー分散型X線回折顕微法により調査した結果をまとめ，紹介する．

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