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3:40 PM - 4:00 PM JST(6:40 AM - 7:00 AM UTC)

[S1.5]Development of New Technique for Crystal Orientation Analysis of Polycrystalline Material ~X-ray Backscatter Diffraction~

*Keisuke ISHIGAMI¹, Kazushi Sumitani¹, Kentaro Kajiwara¹, Yutaka Matsuura², Ryuji Tamura³, Tetsuya Nakamura^1,4 (1. JASRI, 2. RIAS, 3. TUS, 4. SRIS)

結晶方位分布解析,X線後方散乱回折法,XBSD,Nd-Fe-B,多結晶材料

多結晶材料の結晶方位分布解析における新手法として、X線後方散乱回折(XBSD)法の開発を進めている。本講演では、多結晶Nd-Fe-B磁石を用いたXBSDの測定例と解析結果に加え、今後の課題について紹介する。