[7]Anisotropic microstructural evolution in free sintering and constrained sintering of metal film by using FIB-SEM tomography
*Gaku OKUMA1,2, Fumihiro WAKAI1,2(1. National Institute for Materials Science (NIMS), 2. Tokyo Institute of Technology)
FIB-SEMトモグラフィーにより観察した基板上のサブミクロン粒径の金属膜の拘束焼結における3次元異方的微構造形成を,組織断面観察から決定した切片長さや,気孔方位分布,表面エネルギーテンソルを用いて解析する.
