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[294]Characterization of valence band region XPS spectra from the passive films on titanium

Yuzuki EDA1, Tomoyo MANAKA2, *Takao HANAWA3,4, Peng CHEN3, Maki ASHIDA3, Kazuhiko NODA5 (1. Shibaura Institute of Technology, 2. Tokyo Medical and Dental University, 3. Tokyo Medical and Dental University, 4. Kobe University, 5. Shibaura Institute of Technology)

Keywords:

チタン,XPS,価電子帯スペクトル,角度分解法,アルゴンイオンスパッタ

Tiから検出される価電子帯スペクトルは、不働態皮膜由来のものとTiの下地金属由来のものとが重畳しており、そのまま解析することができない。Tiの不働態皮膜のみに由来する価電子帯領域スペクトルを明らかにした。