Presentation Information
[P175]Observation of crystal defect in CoCr alloy additively manufactured by STEM and ECCI
*Rie Kudo1, Takuji Ube1, Katsumi Yamada1, Kaoru Sato1 (1. JFE TECHNO-RESEARCH CORPORATION)
Keywords:
STEM,ECCI,転位,積層欠陥,積層造形材
結晶内欠陥の観察は，従来TEMで行われていたが，近年ではバルクの状態で観察ができるECCI法が注目されている．本研究では，STEM像とECC像を同時取得し，像コントラストの違いについて考察した．