Presentation Information
[P82]Microscale Ion Beam-Induced Formation of Porous Structure on Ge
*Jinichiro IDETO1, Takahiro Ueda1, Naoto Oishi1, Noriko Nitta2 (1. Kochi University of Technology, 2. Kochi University of Technology)
Keywords:
Ge,イオンビーム,照射損傷,ライン,ポーラス構造
Geはイオンビームを照射することで、表面にナノからサブミクロンサイズのポーラス構造を形成させることが可能である。本研究では、微小領域に対してイオンビームを照射することで、Geの照射挙動を調べた。
