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[P82]Microscale Ion Beam-Induced Formation of Porous Structure on Ge

*Jinichiro IDETO1, Takahiro Ueda1, Naoto Oishi1, Noriko Nitta2 (1. Kochi University of Technology, 2. Kochi University of Technology)

Keywords:

Ge,イオンビーム,照射損傷,ライン,ポーラス構造

Geはイオンビームを照射することで、表面にナノからサブミクロンサイズのポーラス構造を形成させることが可能である。本研究では、微小領域に対してイオンビームを照射することで、Geの照射挙動を調べた。