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[S3.1][Keynote Lecture] Accuracy Investigation of Core Loss Measurement of Low-Permeability Material for High-Frequency Power Electronics Circuits

*Yuki Sato1, Yuji Uehara2, Satoshi Okamoto3, Shigeyoshi Yoshida3, Yasushi Endo3 (1. Aoyama Gakuin University, 2. Magnetic Device Laboratory, 3. Tohoku University)

Keywords:

鉄損測定,低透磁率材料,共振法,高周波

低透磁率磁気材料の需要が高まっている。一方で、低透磁率磁気材料の鉄損損失測定手法は難しいことが知られている。そこで、本講演では、低透磁率材料の鉄損測定に関する講演を行う。