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[27]Leaching-Induced Structural Alternations in Cleaved Surface of Chalcopyrite II

*Shu KUROKAWA1, Tsukasa HORIE2, Yu-ki TANINOUCHI3 (1. Kyoto Univ., 2. Kyoto Univ. (M2), 3. Kyushu Univ.)

Keywords:

黄銅鉱,原子間力顕微鏡,X線光電子分光

走査プローブ顕微鏡とアルゴンクラスターイオンによるスパッタを用いた深さ方向の光電子分光測定を組み合わせ,大気中および浸出操作後に表面近傍の構造がどのように変化するのか調査した結果を報告する.