Presentation Information
[104]STEM analysis of aging products in an Al-Mg-Si alloy during low temperature aging
*Genki SAITOU1, Kaito Watanabe1, Masahiro Ohtsuka1, Shunsuke Muto1, Kazuya Mizuno2, Syouma Torigoe2, Ken Takata2, Fabio Iesari3, Okajima Toshihiro3 (1. Nagoya Univ., 2. Daido Univ., 3. Aichi Synchrotron Radiation Center)
Keywords:
時効,析出,Al合金,透過型電子顕微鏡
Al-Mg-Si合金を100℃で1~400時間時効した材料をHAADF観察およびSTEM-EDS分析し、時効生成物の構造と組成を調査した。比較のため、100℃-400h時効後、室温で15か月おいたサンプルも調査した。
