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9:00 AM - 9:40 AM JST(12:00 AM - 12:40 AM UTC)

[S4.1][Keynote Lecture] Characterization of local properties by TEM and the challenge to the evaluation of the material’s property associated with grain boundary

*Seiichiro II¹, Sadahiro Tsurekawa² (1. National Institute for Materials Science, 2. Kumamoto University)

結晶粒界,透過型電子顕微鏡,EELS,粒界破壊

我々がこれまで行ってきたTEM/EELSによる3d遷移金属の粒界磁気モーメント測定結果を紹介するとともに、半世紀ほど前に議論された磁性と粒界破壊の関係について、現状の技術を踏まえて今一度議論する。