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[S2.2]Unique Nanostructure at the Edge of SiO2 Samples Irradiated with Swift Heavy Ions

*Norito Ishikawa1, Tomitsugu Taguchi2, Hiroaki Ogawa1 (1. JAEA, 2. QST)

Keywords:

イオン照射,ナノ構造,照射損傷,セラミックス

高速重イオン照射したSiO2セラミックスの試料端において、透過型電子顕微鏡を利用してイオントラック損傷の形成に伴う特殊なナノ構造を観察することが出来た。