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[S2.6]The difference between defects created by pulse and continuous beams in pure metals

*Kosuke IRIE1,2, Yoshiie Toshimasa3, Atsushi Kinomura1, Fuminobu Hori3, Tomoaki Nishimura4 (1. KURNS Kyoto Univ., 2. Grad. School of Eng. Kyoto Univ., 3. Grad. School of Eng. Osaka Metropolitan Univ., 4. Res. Center of Ion Beam Technol. Hosei Univ.)

Keywords:

欠陥,陽電子寿命法,電子線照射,イオン照射,パルスビーム

反応速度論に基づくシミュレーションと、電子線型加速器及びタンデム型イオン加速器によるパルスビーム照射実験を行い、連続ビームとパルスビームによって与えられる材料の損傷状態の違いを示すことを目的とする