[P] P1~P9

[P6] Temperature dependence of electrical properties in CrTe thin film

*Takuya Tsuruta¹, Yi Shuang^1,2, Daisuke Ando¹, Yuji Sutou^1,2 (1. Tohoku Univ. (Eng.), 2. Tohoku Univ. (AIMR))

Keywords:

CrTe,薄膜,相変化

CrTe薄膜が、六方晶構造-単斜晶構造間で相変化することを発見した。さらに、それぞれの構造における抵抗率などの電気特性の温度依存性について調査した。