[P] P185~P191

[P190] Investigation of the phase-change behaviors of Zn-Te-based thin films

*Kokoro SAWADA¹, Yi Shuang^1,2, Daisuke Ando¹, Yuji Sutou^1,2 (1. Tohoku Univ. (Eng.), 2. Tohoku Univ. (AIMR))

Keywords:

ZnTe,薄膜,相変化メモリ

ストレージクラスメモリの一つである相変化メモリにおいて、アモルファス相を介さない相変化を利用することで低消費エネルギーが実現できる。そこで多形を示すZnTeに着目し、その相変化挙動を調査した。