[P] P251~P268

[P266] Influence of Substrate Crystallographic Orientation on Crack Propagation Behavior around Indentations in AlO(OH) Films Formed on an Aluminum Alloy

*Kosei iDO¹, Keita Suzuki¹, Ai Serizawa² (1. Shibaura Inst. of Technol., 2. Shibaura Inst. of Technol.)

Keywords:

AlO(OH)皮膜,水蒸気プロセス,圧痕周囲き裂,Indentation Fracture法,IPFマップ

事前に基材結晶方位を解析したAl合金に水蒸気プロセスを行い形成したAlO(OH)皮膜に対し圧痕圧入法(IF法)を行い、圧痕周囲のき裂を観察することで基材結晶方位がAlO(OH)皮膜の力学特性に及ぼす影響を調査した。