[P] P85~P95

[P92] HRTEM image observation using TEM equipment installed at National Institute of Technology, Niihama College in Network tele-microscopy

*Yuto MONDA¹, Kou YAMAMOTO², Takeshi NAGASE³, Michiru YAMASHITA⁴, Mitsuharu TODAI⁵, Ryuji NISHI⁶, Satoshi ICHIKAWA⁷ (1. University of hyogo (Bachelor), 2. University of hyogo (Master), 3. University of hyogo, 4. Hyogo Prefectural Institute of Technology, 5. National Institute of Technology, Niihama College, 6. Fukui University of Technology, 7. Osaka University)

Keywords:

Network tele-microscopy,高分解能電子顕微鏡,金属組織観察

高分解能電子顕微鏡の遠隔観察における画像劣化現象について、新居浜工業高等専門学校＠新居浜・愛媛に設置された透過型電子顕微鏡を利用して検討した結果を報告する。