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[143]サブテラヘルツプローブ測定装置の構築

○Ami Ito1, Tadao Tanabe1, Yuta Sasaki2 (1. Shibaura Institute of Technology, 2. National Institute for Materials Science)

Keywords:

sub-Terahertz

本実験では、サブテラヘルツ波のプローブ測定装置を組み立て、10~20 GHz帯の電磁波を用いて磁性体の応答特性を測定した。磁場印加方向や磁石との距離を変化させた際の電圧変化を比較し、磁性体の特性を評価することを目的とした。

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