[1I01-04] 4：X線・電子分光分析-1

9:30 AM - 9:45 AM JST(12:30 AM - 12:45 AM UTC)

[I1001] 化粧品製剤中の微量重金属測定における蛍光X線の応用

○Kosato Yamaguchi¹, Junko Yasuda¹, Sae Uchiyama¹, Ken Tanaka¹ (1. 株式会社コーセー)

Keywords:

X-ray Fluorescence analysis,Fundamental parameter method,Heavy metals,Cosmetics