[4M5-GS-2f] Machine learning

4:45 PM - 5:00 PM JST(7:45 AM - 8:00 AM UTC)

[4M5-GS-2f-06] Proposal and Verification of a New Metric for Quantifying Banding Artifact

〇Ryoichiro Koyama¹, Hiroyuki Nakase¹ (1. Tohoku University)

Keywords:

Adversarial attack,LPIPS,SSIM,Perceptual quality,Banding

敵対的摂動を付与した画像の視覚的品質評価において，従来広く用いられるSSIMとLPIPでは,バンディングによる画像品質劣化に対して感度が低く,定量評価に適していないことを見出した.バンディング劣化が明るい平坦領域に顕在化することに着目し，差分輝度ΔYの勾配強度を明るさ・平坦度で重み付けした重み付き95パーセンタイル指標BandMetric_95を提案する.SSIM=0.93に拘束しLPIPS目標値を変えて生成した画像群を評価した結果，同一LPIPS帯域内でもBandMetric_95が大きく分散し，提案した新たな指標がバンディングによる視認品質劣化を定量化できることを確認した.