[18p-P04-1~15] 12.2 Characterization and Materials Physics

[18p-P04-1] Fabrication of Nanowire Probes for Tip-Enhanced Raman Scattering

〇Reiji Kumagai^1,2, Farsai Taemaitree^1,2, Kenji Hirai^1,2, Hiroshi Uji-i^1,2 (1.Hokkaido Univ, 2.RIES)

Keywords:

Tip-Enhanced Raman Scattering,Graphene

探針増強ラマン分光法（TERS）は走査型プローブ顕微鏡と表面増強ラマン散乱の組み合わせにより、光の回折限界を超えた微小領域の試料を分析する測定法である。TERSでは金属間のプラズモン増強電場を利用するために金属基板が多用されるが、試料に適した誘電体基板を用いた測定系の構築が望まれている。本研究では、AgナノワイヤーにAuをデポジットしたプローブを開発し、シリコン基板上におけるグラフェンのTERS測定を行った。