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3:45 PM - 4:00 PM JST(6:45 AM - 7:00 AM UTC)Presentation by Applicant for JSAP Young Scientists Presentation Award

[10p-E207-9]Thickness dependence of thermoelectric figure-of-merit in CoFeB ferromagnetic films revealed by all-in-one evaluation method for transverse thermoelectric properties

〇Takumi Yamazaki¹, Norihiko L. Okamoto¹, Tetsu Ichitsubo¹, Takeshi Seki^1,2,3 (1.IMR, Tohoku Univ., 2.CSIS, Tohoku Univ., 3.SRIS, Tohoku Univ.)

Keywords:

anomalous Nernst effect,figure-of-merit,thin film

磁性体の磁化と温度勾配に対し垂直に電場が生じる異常ネルンスト効果は，代表的な横型熱電変換現象である．薄膜材料においては熱測定の困難さに起因し，性能指数を正確に評価する手法が確立されていない．本研究では性能指数を構成する異常ネルンスト係数，熱伝導率，電気伝導率を単一デバイス・単一装置で一括評価する方法を提案する．本手法をCoFeB磁性薄膜に適用し，各物性値および性能指数の膜厚依存性の挙動を報告する．

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