[8a-B32-1~11] 12.2 Characterization and Materials Physics

10:00 AM - 10:15 AM JST(1:00 AM - 1:15 AM UTC)

[8a-B32-5] Time-Resolved Potential Measurement of Organic Thin-Film Transistors Using Pump-Probe Kelvin-probe Force Microscopy

〇Kota Hibi¹, Kei Kobayashi¹ (1.Kyoto Univ.)

Keywords:

Atomic Force Microscopy(AFM),Kelvin-probe Force Microscopy(KFM),Organic semiconductor

時間分解ケルビンプローブフォース顕微鏡（PP-KFM）を用い、有機薄膜トランジスタ（OTFT）の動作中におけるチャネル電位分布を計測した。DNTTを半導体層とするOTFTにゲート電圧パルスを印加し500 nsの時間分解能で電位分布を取得した結果、正孔の注入・排出に伴うチャネル部の電位変化を観測した。