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9:30 AM - 9:45 AM JST(12:30 AM - 12:45 AM UTC)Presentation by Applicant for JSAP Young Scientists Presentation Award

[8a-C310-3]Simultaneous Imaging of High-Frequency AC Magnetic Fields and Temperature Using Electron-Spin RF-dressed States with Continuous-Wave Scanning NV Microscopy

〇Shuntaro Komuro^1,2, Ryusei Okaniwa^1,2, Aki Hukushima^1,2, Kunitaka Hayashi³, Toshu An³, Junko Ishi-Hayase^1,2 (1.Keio Univ, 2.Keio CSRN, 3.JAIST)

Keywords:

Nitrogen-Vacancy Center,Atomic Force Microscopy,Scanning Probe Microscopy

磁場と温度のナノスケール同時イメージングは, 微細デバイスの故障解析や物性評価に重要である. しかし従来の走査NV中心顕微鏡(SNVM)では, 温度感度や複雑なパルス制御の必要性により, 磁場と温度の同時測定は困難であった. 本研究では, 電子スピンRF-dressed状態を用いた連続波光検出磁気共鳴をSNVMに適用し, 交流磁場と数Kの温度変化の同時イメージングを実証した.

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