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[9p-E217-4]The direct observation of “slow” carrier dynamics in operating Cu(In,Ga)Se2 optoelectric devices by transient photoelectric responses measurement

〇Kana Ueda1,3, Mutsumi Sugiyama1,2, Thomas Fix4,5 (1.Tokyo Univ. Sci., 2.RIST, 3.JSPS Research Fellow, 4.ICube Lab., 5.CNRS, Univ. of Strasbourg)

Keywords:

transient response,band bending,SPV measurement

本研究ではCIGS薄膜及びCIGS光デバイス実動作時の過渡光電気応答によるキャリア輸送過程の検討を行った。