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[I-P11-01]ASDデバイス閉鎖術後のValsalva sinus erosionのリスク因子に関する検討
○嶋 侑里子1, 矢崎 諭1, 松村 雄1, 斎藤 美香1, 吉敷 香菜子1, 上田 知実1, 浜道 裕二1, 嘉川 忠博1, 松井 彦郎1, 布木 誠之2 (1.榊原記念病院 小児循環器内科, 2.榊原記念病院 循環器内科 循環器内科)
Keywords:
ASDデバイス閉鎖術,Valsalva sinus erosion,Valsalva sinusの圧迫深度