Presentation Information
[3211-22-03]Concentration of precious metal from waste printed circuit board
○Hideaki Hara1, Hitoshi Ooya1, Nobuhiro Inoue2, Yuuji Komori2, Masakazu Konishi2, Mizuki Fukuda2 (1. The University of Kitakyusyu, 2. Astec irie)
司会: 篠田弘造(東北大学)
Keywords:
Precious metal,Urban mine,Printed circuit board,Superheated steam
1.緒言
日本には貴金属が都市鉱山として様々な電化製品に埋蔵されており、ここから貴金属を回収しリサイクルを行うことは非常に有益なことである。そこでリサイクルの対象となる部品を調査することはリサイクルの効率を上げることに重要である。
2.目的
廃電子回路基板中の電子部品とAuの分布調査を行うことで各電子部品の最適な処理が明白になるとともに高効率な選別方法の検討をすることができる。
3.実験 廃電子回路基板中の電子部品とAuの分布調査
実験方法 各廃電子回路基板から電子部品を剥離し、電子部品に関してふるい選別、手選別により各サンプルを作成した。これに過熱水蒸気などによる劣化処理を加えて王水溶解を行いICP-AESで分析を行った。
4.結果及び考察
廃電子回路基板中にはICチップやコネクタ類などAu濃度の高い電子部品やコンデンサや抵抗類などAu濃度の低いものが存在するがそれぞれの電子部品の中でもAu濃度の高いものや低いものが存在した。また、各電化製品でも電子部品のAu濃度には特徴があることが分かった。このことから電化製品ごとでもまとめて処理を行うことが効率的なものもあれば別々に処理を行うことが効率的なものがあることが分かった。
日本には貴金属が都市鉱山として様々な電化製品に埋蔵されており、ここから貴金属を回収しリサイクルを行うことは非常に有益なことである。そこでリサイクルの対象となる部品を調査することはリサイクルの効率を上げることに重要である。
2.目的
廃電子回路基板中の電子部品とAuの分布調査を行うことで各電子部品の最適な処理が明白になるとともに高効率な選別方法の検討をすることができる。
3.実験 廃電子回路基板中の電子部品とAuの分布調査
実験方法 各廃電子回路基板から電子部品を剥離し、電子部品に関してふるい選別、手選別により各サンプルを作成した。これに過熱水蒸気などによる劣化処理を加えて王水溶解を行いICP-AESで分析を行った。
4.結果及び考察
廃電子回路基板中にはICチップやコネクタ類などAu濃度の高い電子部品やコンデンサや抵抗類などAu濃度の低いものが存在するがそれぞれの電子部品の中でもAu濃度の高いものや低いものが存在した。また、各電化製品でも電子部品のAu濃度には特徴があることが分かった。このことから電化製品ごとでもまとめて処理を行うことが効率的なものもあれば別々に処理を行うことが効率的なものがあることが分かった。
