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[B-11-20]焦電型赤外線センサにおける計測値の個体差に関する基礎検討
〇Shino Shiraki1 (1. Chiba Institute of Technology)
Keywords:
device identification,passive infrared sensors
センサや電子回路には，製造時のばらつきに起因する計測値の偏りが存在することが知られている．セキュリティ分野を中心に，端末に搭載された加速度センサや，無線信号のI/Q インバランスなど連続値を用いた端末識別(Device Identification) の研究が進められている．しかし，IoT 機器に広く利用される安価なバイナリセンサについては，端末識別の前提となる個体差の有無が十分に明らかになっていない．本研究の目的は，同型番・同一条件下の焦電型赤外線センサにおいて，センサ計測値に個体差が存在するか統計的に検証することである．実機実験の結果，検出率およびホールド時間分布について統計的有意差があることを確認した．