[C-8] Superconducting Electronics

11:00 AM - 11:15 AM JST(2:00 AM - 2:15 AM UTC)

[C-8-06] クロックレスゲートで構成されたRSFQ論理回路におけるタイミング故障のモデル化とテストパターン生成

〇Masaki Oiwa¹, Nobutaka Kito¹ (1. Chukyo Univ.)

Keywords:

RSFQ circuits,Clockless gate,Timing fault,Test pattern generation,Constraint satisfaction problem

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