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[C-8-06]クロックレスゲートで構成されたRSFQ論理回路におけるタイミング故障のモデル化とテストパターン生成
〇Masaki Oiwa1, Nobutaka Kito1 (1. Chukyo Univ.)
Keywords:
RSFQ circuits,Clockless gate,Timing fault,Test pattern generation,Constraint satisfaction problem
超伝導単一磁束量子（RSFQ）回路は、超高速かつ低消費電力で動作することから次世代の高性能計算基盤として期待されている。近年、パスバランスのための記憶素子挿入を抑える手法として、クロックレスゲートで構成されたRSFQ回路が注目されている。一方、このような回路では入力パルスの到着タイミングが動作に直接影響するため、製造ばらつきなどに起因するタイミング故障への対応が重要となる。本稿では、クロックレスゲートで構成されたRSFQ回路を対象に、タイミング故障を五値論理でモデル化し、故障検出のためのテストパターン生成問題を制約充足問題（CSP）として定式化する手法を提案する。さらに、ISCAS85ベンチマーク回路C432を対象に評価を行い、提案手法によりタイミング故障を検出するテストパターンを生成できることを確認した。