講演情報
[2B01]半導体メモリー素子に対する宇宙線ミュオン誘起ソフトエラー発生率の推定
*真鍋 征也1、渡辺 幸信1、廖 望2、橋本 昌宜2、安部 晋一郎3 (1. 九州大学、2. 大阪大学、3. 原子力機構)
キーワード：
シングルイベントアップセット、ソフトエラー発生率推定、PHITS、宇宙線ミュオン
半導体デバイスの信頼性問題の1つにソフトエラーと呼ばれる一過性の誤動作・故障現象がある。近年、宇宙線ミュオンによるソフトエラーの発生が懸念されている。本研究では、デバイスに対する低エネルギー正負ミュオン照射実験結果とPHITSシミュレーションを基に、地上放射線環境におけるミュオン誘起ソフトエラー発生率(Soft error rate : SER)を予測した。負ミュオン原子核捕獲反応から放出される二次イオンの影響により、負ミュオンは正ミュオンに比べSERが著しく高くなり、地上環境においてミュオン誘起SERを正確に見積もる上で捕獲反応を考慮することが重要であることが明らかとなった。