講演情報

[1MH02]k近傍法を用いた充電状態に依存しないリチウムイオン電池の異常検知

*志村 重輔1,2、高田 大輔2、渡辺 日香里2、四反田 功2、板垣 昌幸2 (1. 株式会社村田製作所、2. 東京理科大学)

キーワード:

劣化診断、機械学習、安全性