講演情報

[1MH11]機械学習によるナイキスト図に対するLLIの要因別分析の一検討

*永田 茜1、西川 隆1、福井 正博1 (1. 立命館大学 理工学研究科 (日本))

キーワード:

ナイキスト図、劣化要因分析、劣化診断